产品简介
红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。
黑体 IR-563/301 的技术参数
卓立汉光自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台，可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FI-RXF100-RE 也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。
发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图发形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。
产品应用领域
产品特点
干涉仪：高*迈克尔逊干涉仪，光路永*准直，稳定性极佳，10 年质量保证
固态激光器：性能稳定，使用寿命达 10 年以上
发射源：聚焦光路，用户的样品或者热源或者黑体
分束器：ZnSe 材质分束器和 ZnSe 窗片，防止光学器件潮解（可选 KBr、石英分束器）
检测器：内置双检测器位置，可选择常温检测器或者低温 MCT、铟镓砷，可以实现软件自动切换
光路设计：专用的发射光路设计，简洁紧凑，降低辐射损失，提高辐射通量
发射附件：可定制各种附件满足客户的实际测试需求
产品技术参数
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光谱范围 |
标准范围 500 ～5000 cm-1 （可选 400-7500cm-1、400-10000cm-1、戒扩展到近红外 12500 cm-1） |
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光谱分辨率 |
优于 2 cm-1，通常使用 8 cm-1 |
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测量方式 |
将样品放置在聚焦点，可以选择不同的温控仪或者黑体 |
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工作条件 |
工作温度：-5～40℃；工作湿度：0 ～100%R.H. |
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电源 |
100～240VAC ，50～60Hz, 20W； |
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重量 |
12kg |
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尺寸 |
44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含发射挡板) |
对于室温下的物质的红外发射测量，卓立汉光提供了另外一种解决方案。通过 FI-RXF 系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询卓立汉光的应用工程师。
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