简介
激光诱导击穿光谱实验是通过超短脉冲激光聚焦样品表面形成等离子体,对等离子体发射光谱进行分析来确定样品的物质成分及含量。超短脉冲激光聚焦后能量密度较高,可以将任何物态(固态、液态、气态)的样品激发形成等离子体,LIBS技术(原则上)可以分析任何物态的样品,仅受到激光的功率以及探测光谱仪的灵敏度和波长范围的限制。几乎所有的元素被激发形成等离子体后都会发出特征谱线,因此,LIBS可以分析大多数的元素。基本原理
产品介绍
探测波段范围:200-900nm(其他波段可选),全国产iCMOS相机
光学分辨率:<0.1nm,更小值可选
最短门控:3ns,采用全国产iCMOS相机
延迟与门控精度:10ps
激光器能量:50、100、200、400mj等可选
波长重复精度:0.01nm
三维位移台:行程 可选
支持定制真空腔光路,样品气体吹扫等功能
光谱显示(峰值、半高宽)、谱线识别、文件自动保存
自动聚焦功能
Mapping功能
样品图像实时显示
完整、安全的外罩设计,便于运输和现场开箱即用。
同轴、异轴硬件框架设计,灵活适配科研实验需求。
依照不同的实验室测量精度要求可灵活搭配激光器、光谱仪以及快速门控相机
基于激光和视觉算法的自动对焦系统,对样品表面实时跟踪实现LIBS的自动跟焦和Mapping。
软件界面突出Mapping和定量元素分析的特色,实时显示元素Mapping分布图。
应用领域
矿产(煤质分析)、冶金、炉渣等金属物质的成分探测推荐搭配
显微镜模块,用于微观样品的测量以及分析可升级功能
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