守护Micro-LED之光，点亮未来视界丨卓立汉光Micro-LED寿命测试系统
一、系统介绍
Micro-LED技术以其卓越的显示效果、超长寿命和高度定制化能力，正逐步引领显示技术的新一轮革命。然而，该技术在量产过程中的质量与可靠性保障，仍是行业面临的核心挑战。针对这一痛点，卓立汉光推出了专为Micro-LELD设计的寿命测试系统，为产品质量提供关键支撑。
卓立汉光Micro-LED寿命测试系统采用高精度的运动机构和高稳定性温控平台(温度控制精度为±0.1℃或±0.01℃；控制温度范围-40℃~120℃，其它范围可定制；平面均均匀度优于±0.3℃，低温除霜确保光学性能，支持隔离玻璃透过率矫正)，能够精确模拟和测试Micro-LED在各种极端条件下的寿命表现，确保测试结果的准确性和可靠性。
系统支持多种测试模式，包括自动行扫描、自动列扫描、全屏渐亮/渐暗等，全面覆盖Micro-LED的亮度、对比度、色彩稳定性等关键性能指标，为用户提供全面的测试数据支持。
系统具备高度自动化和智能化的特点，能够自动完成测试流程，减少人工干预，提高测试效率。内置监控及传感器，可远程实时监测运行情况。智能数据分析功能能够自动分析测试数据，生成详细的测试报告，为用户提供便捷的数据处理和分析服务。
整体布局图
二、实现原理
卓立汉光Micro-LED寿命测试系统通过模拟Micro-LED在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件，对Micro-LED进行加速寿命测试。系统采用高精度的运动模组，能够精确控制测试仪器的位置和运动轨迹，确保测试的精确性。同时，系统配备高精度的温控模块，能够精确控制Micro-LED的测试温度，模拟不同的温度环境。此外，系统还配备光谱式亮度计和CCD自动对位系统，能够精确测量Micro-LED的亮度、色度等性能指标，并实现发光面的自动定位，确保测量的准确性。
Micro-LED寿命评估方法：
1. 时间衰减法：测量Micro-LED的亮度、色度等性能指标随时间的变化，当性能指标下降到初始值的一定比例时，认为Micro-LED达到寿命终点。
2.失效模式分析法：观察Micro-LED在加速寿命测试过程中出现的失效模式，如暗斑、亮斑、色偏等，根据失效模式的出现时间和频率推断寿命。
3.统计分析法：对大量Micro-LED样品进行寿命测试，收集失效数据，通过威布尔分布分析等统计方法预测寿命和可靠性水平。
原理图
卓立汉光Micro-LED寿命测试系统广泛应用于Micro-LED显示屏制造商、科研机构与高校等领域。
对于Micro-LED显示屏制造商，该系统可用于生产过程中的质量控制和性能测试，确保产品符合标准和客户要求，提高产品质量和市场竞争力。
对于科研机构与高校，该系统可用于Micro-LED技术研究、材料开发以及性能优化等方面的实验和研究，推动Micro-LED技术的不断发展和创新。
四、应用案例
某知名Micro-LED显示屏制造商在生产过程中引入了卓立汉光Micro-LED寿命测试系统。该制造商通过对产品的质量和可靠性测试结果进行改进，提高了良率和工作效率。
同时，该制造商还利用系统的智能数据分析功能，快速获取测试数据和分析结果，为研发人员提供了有力的数据支持，加速了Micro-LED技术的研发进程和创新步伐。
此外，某科研机构也采用了该系统进行Micro-LED技术研究，通过系统的多种测试模式和精确的测量功能，该科研机构成功开发出了一种新型的Micro-LED材料，显著提高了Micro-LED的性能和寿命。
现场运行图
系统设计亮点
1. 极致精准的测试能力
采用高精度运动控制系统、微米级运动模组、±0.01℃温控平台，确保测试数据准确可靠。配合光谱亮度计PR-788+SL-0.5X镜头，突出宽动态范围与高精度色度测量。
2. 全面覆盖的测试模式
支持自动行/列扫描、全屏渐亮/渐暗等多种测试模式，覆盖亮度、对比度、色彩稳定性等关键指标。支持“一机多用”，减少设备投入；
3. 高度自动化与智能化
具备自动对位（、自动测试流程、远程监控、智能数据分析与报告生成。
4. 用户友好与定制化服务
直观的操作界面、多语言支持，并提供定制化测试方案。
多通道，可独立控制温度
手自动操作界面软件界面图
卓立汉光Micro-LED寿命测试系统凭借卓越性能与广泛适用性，为Micro-LED技术的持续发展提供了坚实支撑。我们还可根据用户的具体需求提供灵活的定制化服务，以科技之力，守护每一束Micro-LED之光，助力Micro-LED技术迈向更加辉煌的未来。欢迎咨询了解更多产品详情与合作机会
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