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钙钛矿(Perovskite)材料是一类有着与钛酸钙（CaTiO3）相同晶体结构的材料。 钙钛矿材料结构式一般为ABX3,其中A,B是两种阳离子，X 是阴离子。 近200年来，人们对钙钛矿材料的研究从未停止，元素周期表几乎所有的元素都可以占据晶格结构的位置组成钙钛矿。钙钛矿大家族里现已包括数百种物质，范围极为广泛，其中很多是人工合成的。 这类材料具有独特的魅力，其多变的晶体结构可以引申出众多的材料属性：可以是绝缘体、半导体、导体、超导体，可以具有铁电性、铁磁性，铁弹性、催化性、质子传导性、离子传导性、光电性。
概念解释：暗场显微(英文：Dark-field microscopy)或称暗视野显微(英文：Dark ground microscopy)描述光学显微和电子显微中的一种特殊显微手法，除去观测物体以外的光线或电子进入物镜，使目镜中观测到的视野背景是黑的，只有物体的边缘是亮的。利用这个方法能见到小至 4~200nm的微粒子，分辨率可比普通显微法高50倍。
闪烁晶体到底是什么？可能很多人都没听过这个词，但其实，在我们的日常生活中并不陌生。闪烁体是一种当被电离辐射激发之后会表现出发光特性的材料，是将高能转换为可见光的一种典型光电转换材料，可用于辐射探测和安全防护，通常在应用中将其加工成晶体，称为闪烁晶体。
硫化铟（In2S3 ）[1]是一种具有极高潜在利用价值的半导体材料，可作为CIGS薄膜太阳能电池的缓冲层材料，并有望作为Cds缓冲层的替代材料，在光伏与光电器件上有很好的应用前景。 In2S3在常温常压下比较稳定，属于立方晶系，具有四面体和八面体的空间结构，并存在高密度的In空位。 一般存在α、β、r 3种相，常温下稳定的为β 相。
半导体器件和电路制造技术飞速发展，器件特征尺寸不断下降，而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺陷定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析(FA)而言，微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。微光显微镜其高灵敏度的侦测能力，可侦测到半导体组件中电子－电洞对再结合时所发射出来的光线，能侦测到的波长约在350nm ~ 1100nm 左右。 它可以广泛的应用于侦测IC 中各种组件缺陷所产生的漏电流，如： Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理图如下:
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