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SI-FZ

SI-FZ斐索干涉仪

斐索干涉仪原理为等厚干涉,单色光束在标准平面或标 准球面上,部分反射为参考光束;部分透射并通过被测件后 反射回来的光束作为检测光束。检测光束自准返回,与参考 光束重合,形成等厚干涉条纹。斐索干涉仪是检测光学元件 面形、光学镜头波面像差以及光学材料均匀性等参数的一种精密仪器。
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产品概述
SI-FZ斐索干涉仪
斐索干涉仪原理为等厚干涉,单色光束在标准平面或标 准球面上,部分反射为参考光束 ;部分透射并通过被测件后 反射回来的光束作为检测光束。检测光束自准返回,与参考 光束重合,形成等厚干涉条纹。斐索干涉仪是检测光学元件 面形、光学镜头波面像差以及光学材料均匀性等参数的一种 精密仪器。

SI-FZ斐索干涉仪
实验原理图:

SI-FZ斐索干涉仪组件表:
组件
干涉仪光学系统由各种组件构成,为了更加便捷的搭建或改造实验系统,也可进行单独选购。