Black-wave 凹面光栅光纤光谱仪
凹面光栅式设计，内部无过多的光学元器件，很大程度上降低杂散光（0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm）。波长范围190-900nm，适用于荧光和低杂散光实验要求。
■ 独特凹面光栅设计，用于UV/VIS/NIR应用
■ 减少表面光折射
■ 平滑光栅降低光散射
■ 紫外灵敏度增强
■ 同一分辨率
■ 减少偏差(散光，球面像差)
■ 极大的减少光谱仪中杂散光，获取完美光谱曲线
规格参数
| 动态范围: |
2000:1 with 6 decades |
尺寸: |
69 x 100 x 150 mm |
| 光学分辨率: |
see above |
功率: |
100 mA @ 5 VDC |
| 探测器类型: |
2048 pixel CCD, PDA opt. |
接口: |
USB-2 |
| 探测器范围: |
200-1080 or 220-1100 nm |
数据传输速度: |
3x / 40x faster than USB-1 |
| 像素尺寸: |
14 um x 200 um |
积分时间: |
1 ms to 65 s |
| 凹面光栅: |
Aberration corrected |
狭缝选择: |
14, 25, 50, 100, 200 um |
| 光栅类型: |
Holographic, 590 g/mm |
杂散光: |
0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm |
| 光学平台: |
f/2, Flat field - No mirrors |
光纤输入: |
SMA905 0.22 na single fiber |
| A/D转换: |
16-bit |
操作系统: |
Windows XP/Vista/7 |
| 信噪比: |
1000:1 CCD, PDA 2000:1 |
软件: |
SpectraWiz program & apps |
标准型号
| BLACK Comet |
Wavelength Range(nm) |
Grating g / mm |
Slit-200nm res. |
Slit-100nm res. |
Slit-50nm res. |
Slit-25nm res. |
Slit-14nm res. |
| BLK-C |
190-850 |
590 |
6.0 |
3.0 |
1.5 |
0.85 |
0.75 |
| BLK-CXR |
280-900 |
590 |
6.0 |
3.0 |
1.5 |
0.85 |
0.75 |
| BLK-C-SR |
200-1080 |
concave |
8.0 |
4.0 |
2.0 |
1.5 |
1.3 |
| BLK-CXR-SR |
220-1100 |
concave |
8.0 |
4.0 |
2.0 |
1.5 |
1.3 |
高分辨率型号
| BLACK-Comet model |
Wavelength Range (nm) |
Grating g / mm |
Slit-14 nm res. |
| BLK-C-HR-UV |
200-600 |
590 |
0.40 |
| BLK-C-HR-VIS |
380-750 |
590 |
0.40 |
13810146393
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