产品名称:GaiaTracer高光谱刑侦物检仪

产品型号: GaiaTracer

产品品牌: zolix

  

GaiaTracer 高光谱刑侦物检仪

      采用数码成像手段记录罪案现场是一种常用的刑侦手段。光谱成像(Spectral Imaging)是通过成像光谱仪记录被检对象在某一光谱范围或全光谱范围内的光谱影像数据,从实现方式上,有多光谱成像和高光谱成像之分;由于所采用的分析方法通常为化学分析法,故也成为化学成像法(Chemical Imaging)。

      多光谱成像通常采用滤光片作为分光核心,所能够获得的光谱波段少,因而信息量少;高光谱成像技术是在上世纪80 年代逐渐发展起来的一种新技术,它把传统的二维成像和光谱技术进行了统一,获得图谱合一的三维数据,最初主要应用于航空遥感检测;随着这项技术的发展和普及,逐渐被用于与人类生产生活相关的各种应用,特别是刑侦物证鉴定应用上,高光谱成像技术相对于传统的光谱检验法或数码成像法,具有信息量大、检测结果准确、效果更明显的特点。
 

●GaiaTracer-F系列刑侦物检系统

      GaiaTracer-F系列刑侦物检系统采用液晶可调谐滤波器光谱相机,具有较高的空间分辨率和较好的成像质量,系统主要由照明光源、样本台及采集控制软件组成,适用于实验室环境下的物证鉴别分析。系统采用宽光谱照明光源,光源波长范围覆盖可见光到短波红外,光源高度及角度可调,可满足现有各型号光谱相机的照明要求。样本台提供光谱相机高度调节功能,用于改变光谱成像距离。光谱相机可根据需要选择相应型号,通过采集控制软件获取不同波长的光谱图像,光谱图像获取时可设定波长单幅拍摄,也可设定波长范围及步长连续扫描拍摄。
      由于采用充分的宽光谱照明及具有较多的成像调节功能,GaiaTracer刑侦物检系统可获得优越的光谱成像质量,通过分析处理可获得较精确的物质光谱曲线。
  



光谱成像原理


技术参数

 

Vis

SNIR

VNIR

NIR

工作波段

400nm~720nm

550nm~1000nm

400nm~1000nm

900nm~1700nm

光谱分辨率

8nm~ 20nm
@420nm

8nm~ 20nm
@550nm

8nm~ 20nm
@550nm

20nm
@900nm

调谐分辨率

≥1nm

≥1nm

≥1nm

≥1nm

图像分辨率

3296×2472(max)

3296×2472(max)

3296×2472(max)

640×512

帧频

25fps(max)

25fps(max)

25fps(max)

22fps(max)

接口

USB2.0(控制)
GigE(数据)

USB2.0(控制)
GigE(数据)

USB2.0(控制)
GigE(数据)

USB2.0(控制)
GigE(数据)

视场角

±7°

±7°

±7°

±7°

有效通光口径

<50mm

<50mm

<50mm

<50mm

照明功率

300W×2

300W×2

300W×2

300W×2

照明角度调节

0°-90°

0°-90°

0°-90°

0°-90°

拍照高度调节

0mm-800mm

0mm-800mm

0mm-800mm

0mm-800mm

调焦方式

定焦

定焦

定焦

定焦

横梁承重

4Kg

4Kg

4Kg

4Kg


外观尺寸图纸

 


GaiaTracer-G系列刑侦物检系统
 

    GaiaTracer-G系列刑侦物检系统采用基于光栅分光的推扫式光谱相机,具有较高的光谱分辨率和宽光谱范围,系统主要由照明光源、一维扫描样本台及采集控制软件组成,适用于实验室环境下的物证鉴别分析。系统采用宽光谱照明光源,光源波长范围覆盖可见光到短波红外(紫外光源可选),光源高度及角度可调,可搭载image-λ-G全系列相机,光谱范围可覆盖众紫外到红外全波段范围(200nm~2500nm),具体规格参见image-λ-F-XX资料。样本台提供光谱相机高度调节功能,用于改变光谱成像距离。

基本规格参数:

样品台尺寸(长X宽)

300mm x 300mm

升降高度

200mm-1000mm

测试物体尺寸

290mm x 210mm

平移台行程

300mm

线光源尺寸

均匀线型光源(长300mm)

光源光谱范围

350nm-2000nm


应用介绍

GaiaTracer刑侦物检系统拍摄获取的优质光谱图像,再经过相应的图像处理可清晰展示不同物质的光谱差异,即保持物证的原貌无损,又提供清晰直观的差异对比图像,可广泛用于刑侦物证的鉴定。
 

 

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